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先保证谱可靠，再解释复杂峰形
本章把实验质量和自旋模型放在一起，用来诊断一张真实谱。
读图时保留这项条件：修好处理不自动确认结构，复杂谱形也不一定都是强耦合。
本章导言
印在论文中的谱图是数据处理的结果。样品不均匀、脉冲和延迟设置、采样、窗函数、相位及基线都会改变读者看到的线形和面积。本章从样品到FID再到频谱逐步检查这些环节。
强耦合把简单的裂分规则变成近似。通过最小自旋哈密顿量、能级和跃迁强度，读者能解释AB系统的屋顶效应，并看到同一组化学位移和J参数在不同场强下产生的谱形差别。
问题谱诊断将区分重新处理、重新采集和改变样品条件。重点是保存处理参数、比较残差与原始信息，不能用零填充或平滑后的外观当成新增实验分辨率。
学习任务
能从 FID 得到可靠谱图，识别处理伪影，并用自旋物理解释一阶规则失效。先修：第 3 章；本章按需要补复数、采样和矩阵基础。
本章十二节
4.1
样品准备
溶剂选择、浓度、样品高度、溶解度、洁净度和稳定性；溶液是否均匀。
4.2
仪器与基础设置
磁体、探头、锁场、匀场、调谐、接收与脉冲校准；实验室操作前的培训要求。
4.3
脉冲与矢量模型
旋转坐标系、翻转角、90°/180° 脉冲、偏置频率与带宽。
4.4
弛豫、线宽与饱和
T₁、T₂、T₂* 与 Bloch 方程；重复延迟、磁场不均匀及信号强度。
4.5
采样与分辨率
谱宽、采样间隔、采集时间、数字分辨率、混叠和零填充；区分插值与新增信息。
4.6
常规数据处理
数字滤波、窗函数、傅里叶变换、相位、基线和定标；保存可重放的处理步骤。
4.7
寻峰、积分与拟合
阈值、区域、重叠和误差；拟合结果依赖的线形和模型假设。
4.8
噪声、伪影与污染
截断振铃、折叠、相位/基线问题、溶剂和水；逐项排查实例。
4.9
强耦合与二阶效应
频率差/J 比、屋顶效应、虚耦合、AB、ABX、AA′BB′；谱线间距不一定等于 J。
4.10
从哈密顿量到跃迁
化学位移项、J 耦合项、能级和跃迁强度；最小两自旋矩阵算例。
4.11
不同场强下的谱图模拟
固定 ppm、J 和线宽参数，比较低场与高场；检验一阶近似。
4.12
一张问题谱的诊断
区分样品、采集、处理和解释问题；选择重处理、重采或补充实验。